Sikora多项最新检测技术将在K2016首展

在K 2016展会上, Sikora公司将展出其在测量、控制，以及检查、分析和分选领域的系列产品，这些设备用于提高产品质量，进行工艺优化，降低成本。

首次展出的展品之一是CENTERWAVE 6000，其采用毫米波技术，在挤出过程中在线精确测量大型塑料管材的外径、椭圆度、壁厚和下垂度，适用管径为120mm - 2500mm。

该系统还可以测量多层管材各层的厚度，沿管材圆周测量几个点处的值，不需要任何耦合介质，而且不受测量目标材料和温度的影响。不需要进行校准。因此，该系统可使工艺具有重现性，是大型塑料管材生产领域面向未来的质量保证关键技术。

首次展出的另一个产品是PURITY CONCEPT系统，用于在线和离线检查、分析粒料、碎片和薄膜/条带。

这些系统采用X射线、红外或光学技术，适用于各种应用场合，如在线工艺控制、分析和进厂产品检查。

Sikora展品的另一个亮点是用于塑料材料在线检查和分选的PURITY SCANNER。该系统可确保只有纯净材料进入下一步生产工艺。其将X射线技术与光学测量系统结合到一起，检测塑料粒子表面和内部大于50µm的杂质。含有杂质的粒料被自动分离出来。

Sikora CEO Christian Frank博士表示：“PURITY SCANNER是面向聚合物制造商、配混料制造商、加工行业，以及塑料回收行业的完美系统，可保证向客户提供材料的高纯度，同时可以优化工艺。另外，利用PURITY CONCEPT系统，我们提供了一种针对各种应用场合的定制检查、分析装置，例如在生产过程中进行检查，或者用作试样试验的实验室扫描装置。”

在管材和软管领域，Sikora产品包括用于普通和高端直径测量的LASER Series 2000和LASER Series 6000装置，以及X-RAY 6000系列X射线测试系统。